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CoWoS(Chip-on-Wafer-on-Substrate)是台积电开发的2.5D先进封装技术,自2011年推出后已历经5次技术迭代。台积电将CoWoS封装技术分为三种类型——CoWoS-S、CoWoS-R和CoWoS-L,它们在材料、结构、性能和应用场景上存在明显差异。以下是对各系列封装技术的详细解析:

特点:
使用纯硅中介层作为主要连接媒介
硅中介层最大面积受限约2500平方毫米(受光刻机台限制)
具有最高密度的I/O互连(中介层线宽/线距<1μm)
信号传输性能最优,延迟最低
成本最高,制造工艺最为复杂
技术参数:
HBM支持:最多8个HBM3
SoC集成:1-2个SoC + 8个HBM
面积限制:约2500mm²(约等于2倍掩模版尺寸)
信号完整性:最佳,适合超高带宽需求
适用特性:
适用于对性能要求极高的高端AI芯片
主流应用场景:NVIDIA H100、AMD MI300等顶级GPU
适合数据中心、高性能计算(HPC)和AI加速器
成熟度最高,目前市场主流方案

特点:
使用重新布线层(RDL)中介层
采用非凝胶型热界面材料(TIM)优化热管理和良率
中介板面积可达3.3倍光罩面积(H100仅为2.2倍)
RDL内插器最多由6层铜层组成,间距为4微米(2微米线宽/间距)
提供良好的信号和电源完整性性能,RC值更低
技术参数:
HBM支持:未明确具体数量,但低于CoWoS-L
SoC集成:适合弹性封装设计,成本敏感型应用
面积优势:突破了传统硅中介层的尺寸限制
电气性能:RDL互连提供出色的信号和电源完整性
适用特性:
适用于对成本较为敏感的AI ASIC应用
适合网通设备、边缘AI和中端服务器
与CoWoS-S相比,成本更低,设计弹性更大
目前处于技术储备阶段,尚未大规模量产
特点:
结合局部硅互连(LSI)和RDL中介层
成本介于CoWoS-S和CoWoS-R之间
从1.5倍掩模版插入器尺寸起步,配置1个SoC和4个HBM
可进一步扩展到更大尺寸,支持多达12颗HBM3
保留了CoWoS-S中的硅通孔(TSVs)特征,减少大硅中介层的良率问题
采用绝缘通孔(TIVs)替代TSVs,减少插入损耗
技术参数:
HBM支持:高达12颗HBM3
SoC集成:1个SoC(可扩展至2个SoC)
面积优势:突破2500mm²的硅中介层尺寸限制
电气性能:大规模集成电路芯片,通过多层亚微米铜线实现高布线密度
适用特性:
融合了CoWoS-S和InFO技术的优势
适用于需要兼顾性能和成本的应用
适合网络设备、通信基站、高端消费电子产品
台积电定位为未来CoWoS技术的主流方案
2024年已开始推出,预计将成为新一代AI芯片的核心工艺
| 特性 | CoWoS-S | CoWoS-R | CoWoS-L |
| 中介层材质 | 纯硅 | RDL(重新布线层) | LSI+RDL(局部硅互连+RDL) |
| 成本 | 最高 | 最低 | 中等 |
| 面积限制 | 2500mm² | 无明确限制(3.3倍光罩) | 突破2500mm²限制 |
| HBM支持 | 8颗 | 未明确 | 12颗 |
| SoC集成 | 1-2个 | 未明确 | 1个(可扩展) |
| 技术成熟度 | 最高 | 最低 | 最新,即将成为主流 |
| 主要优势 | 极致性能,高带宽 | 低成本,设计弹性 | 平衡性能与成本 |
| 典型应用 | NVIDIA H100、AMD MI300 | AI ASIC、边缘AI | 通信设备、网络设备、未来AI芯片 |
根据台积电的规划,CoWoS技术正从CoWoS-S逐步向CoWoS-L转移,因为:
CoWoS-L结合了CoWoS-S的高性能和CoWoS-R的成本优势
CoWoS-L能支持更大量的HBM堆叠(12颗HBM3 vs CoWoS-S的8颗)
CoWoS-L通过小芯片拼接突破了光罩面积限制
台积电高效能封装整合处处长侯上勇称CoWoS-L是"未来蓝图要角"
正如台积电在Semicon Taiwan 2024中所展示的,CoWoS-L已成为台积电CoWoS技术路线图的核心,预计将成为下一代AI芯片的主流封装方案。
CoWoS封装技术的应用场景高度聚焦于高算力需求领域:
AI算力芯片:英伟达Hopper系列(A100/H100)、Blackwell系列GPU
HBM存储集成:CoWoS-S5支持8个HBM堆栈,CoWoS-L可扩展至12个HBM3
云计算ASIC:博通、Marvell等企业为谷歌、亚马逊定制ASIC芯片
随着AI芯片需求的持续增长,CoWoS产能也在快速扩张。据2024年数据,全球CoWoS月产能已接近4万片,预计2025年将跃升至9.2万片(台积电占8万片)。
水基清洗的工艺和设备配置选择对清洗精密器件尤其重要,一旦选定,就会作为一个长期的使用和运行方式。水基清洗剂必须满足清洗、漂洗、干燥的全工艺流程。
污染物有多种,可归纳为离子型和非离子型两大类。离子型污染物接触到环境中的湿气,通电后发生电化学迁移,形成树枝状结构体,造成低电阻通路,破坏了电路板功能。非离子型污染物可穿透PC B 的绝缘层,在PCB板表层下生长枝晶。除了离子型和非离子型污染物,还有粒状污染物,例如焊料球、焊料槽内的浮点、灰尘、尘埃等,这些污染物会导致焊点质量降低、焊接时焊点拉尖、产生气孔、短路等等多种不良现象。
这么多污染物,到底哪些才是最备受关注的呢?助焊剂或锡膏普遍应用于回流焊和波峰焊工艺中,它们主要由溶剂、润湿剂、树脂、缓蚀剂和活化剂等多种成分,焊后必然存在热改性生成物,这些物质在所有污染物中的占据主导,从产品失效情况来而言,焊后残余物是影响产品质量最主要的影响因素,离子型残留物易引起电迁移使绝缘电阻下降,松香树脂残留物易吸附灰尘或杂质引发接触电阻增大,严重者导致开路失效,因此焊后必须进行严格的清洗,才能保障电路板的质量。
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