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SiP模块BGA焊球堆叠工艺分析及 SIP模块芯片清洗剂介绍

👁 1726 Tags:BGA焊球清洗剂SiP模块清洗剂芯片清洗剂

我们来对SiP模块中BGA焊球堆叠(BGA Stacking或Solder Ball Stacking)工艺方式进行一个详细的特点和应用分析。

一、什么是SiP模块中的BGA焊球堆叠工艺?

在SiP(System-in-Package)模块中,BGA(Ball Grid Array)焊球堆叠是一种三维(3D)集成技术。它指的是在单个封装体内,将两个或多个芯片/子模块通过BGA焊球在垂直方向上互连起来。

这种工艺通常有两种实现形式:

  1. PoP (Package-on-Package):最常见的形式。将一个封装好的BGA器件(通常是存储器,如DRAM)堆叠在另一个封装好的BGA器件(通常是应用处理器或基带芯片)之上。上下封装通过外围的焊球阵列连接。

  2. PiP (Package-in-Package):将一个或多个未封装的裸芯片堆叠在基板上,然后整体进行一次模塑封装,形成一个完整的SiP模块。内部的垂直互连也可能使用焊球堆叠。

本文将重点分析与PoP相关的BGA焊球堆叠工艺。


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二、工艺特点分析

优点:

  1. 高密度集成,节省空间

    • 最核心的优势。通过在Z轴方向堆叠,极大地减少了在PCB板上的占板面积(Footprint)。这对于智能手机、平板电脑、可穿戴设备等空间极其宝贵的便携式电子产品至关重要。

  2. 优异的电性能

    • 短互连路径:堆叠芯片之间的互连路径非常短,远小于将它们并排放置在PCB上并通过走线连接的长度。

    • 低电感/电阻:短的互连意味着更低的寄生电感和电阻,从而带来更快的信号传输速度、更高的带宽和更低的功耗。这对于处理器和存储器之间需要高速数据交换的应用(如LPDDR)尤为有利。

  3. 提升系统性能

    • 得益于优异的电性能,内存访问延迟更低,数据吞吐率更高,从而整体提升了系统性能。

  4. 设计灵活性与标准化

    • PoP架构允许来自不同供应商的上层封装(内存)和下层封装(处理器)进行混合匹配,提供了较大的设计灵活性。

    • JEDEC等组织对PoP的尺寸、球栅排列等有标准化规定,增强了互操作性。

  5. 简化PCB设计

    • PCB布局只需为一个复合封装(包含处理器和内存)设计焊盘,而不是为两个独立的器件设计,简化了布线复杂度和层数。

  6. 已知良好芯片(KGD)测试

    • 上层和下层封装可以在堆叠前进行独立的测试,确保都是“已知良好芯片”,然后再进行堆叠,有助于提高最终产品的良率。

缺点与挑战:

  1. 工艺复杂度高,良率管理挑战大

    • 堆叠工艺:需要高精度的贴片机在已焊接的下层封装上精确放置上层封装,对设备精度要求极高。

    • 回流焊工艺:所有焊点(下层到PCB,上层到下层)通常在一次回流焊中完成。需要精确控制温度曲线,以确保所有焊球同时良好熔化并连接,且不产生桥连、空洞或冷焊。这对焊膏印刷、焊球共面性要求极高。

  2. 热管理挑战

    • 高功耗的处理器和存储器紧密堆叠在一个小空间内,会产生巨大的热密度。散热路径长,热量容易积聚,可能导致芯片过热降频甚至失效。必须精心设计热界面材料(TIM)和散热方案。

  3. 机械应力与可靠性问题

    • CTE(热膨胀系数)失配:不同材料(芯片、基板、塑封料、PCB)的CTE不同,在温度变化(如开机/关机、环境温度变化)时会产生热机械应力,可能导致焊点疲劳开裂。

    • 机械强度:堆叠结构更高,在受到外力(如跌落、弯曲)时,底部的焊点,尤其是最外侧的焊点,承受的应力最大,容易损坏。

  4. 测试和返修困难

    • 测试:堆叠后很难对内部的单个芯片进行测试和诊断。

    • 返修:如果堆叠后的模块失效,返修过程非常复杂且成本高。需要先加热取下整个堆叠模块,可能会损坏PCB或周围元件。

  5. 成本较高

    • 相比传统二维封装,额外的工艺步骤、更昂贵的设备、更复杂的材料(如底部填充胶Underfill)以及潜在的良率损失都导致了更高的总体成本。


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三、应用分析

BGA焊球堆叠工艺主要应用于对尺寸、性能和带宽有极致要求的领域。

  1. 智能手机和平板电脑

    • 应用处理器 + 移动DRAM (LPDDR) + 闪存 (eMMC/UFS) 是最经典的PoP应用。几乎所有主流智能手机的AP都采用这种形式与内存集成,以实现紧凑的布局和高速数据访问。

  2. 高端可穿戴设备

    • 智能手表、AR/VR眼镜等设备内部空间极为狭小,PoP是集成主控和内存的首选方案。

  3. 高性能计算(HPC)和网络设备

    • 在一些需要高带宽内存访问的ASIC、FPGA和GPU中,也会采用类似PoP的3D堆叠技术(如HBM - High Bandwidth Memory),但其工艺更先进(通常使用TSV硅通孔)。BGA堆叠是成本相对较低的3D集成方案。

  4. 汽车电子

    • 随着ADAS(高级驾驶辅助系统)和智能座舱的发展,需要处理大量数据的域控制器也开始采用SiP和PoP技术,以满足性能和空间要求。


四、工艺选择与考量要点

在选择是否采用BGA焊球堆叠工艺时,需要综合评估:

  • 性能需求:是否需要极高的内存带宽和极低的延迟?

  • 空间约束:PCB板空间是否极度紧张?

  • 热预算:系统的散热能力能否解决堆叠带来的热挑战?

  • 成本目标:能否承受更高的封装成本?

  • 可靠性要求:产品所处的环境(温度变化、机械振动)对焊点可靠性要求有多高?

  • 供应链:是否有可靠的、能提供符合标准的PoP组件的供应商和先进的SMT组装厂?

总结

SiP模块中的BGA焊球堆叠工艺是一种强大的三维集成技术,它通过牺牲一定的工艺复杂性、热性能和成本,换来了无与伦比的空间节省和电性能提升。它是推动现代便携式电子设备向更轻薄、更强大方向发展的重要引擎之一。随着工艺技术的不断进步(如更先进的底部填充材料、更精准的贴装设备、更优化的回流焊曲线),其可靠性和成本效益仍在持续改善,应用范围也将进一步扩大。


SiP模块清洗剂- 芯片封装前锡膏助焊剂清洗剂介绍:

水基清洗的工艺和设备配置选择对清洗精密器件尤其重要,一旦选定,就会作为一个长期的使用和运行方式。水基清洗剂必须满足清洗、漂洗、干燥的全工艺流程。

污染物有多种,可归纳为离子型和非离子型两大类。离子型污染物接触到环境中的湿气,通电后发生电化学迁移,形成树枝状结构体,造成低电阻通路,破坏了电路板功能。非离子型污染物可穿透PC B 的绝缘层,在PCB板表层下生长枝晶。除了离子型和非离子型污染物,还有粒状污染物,例如焊料球、焊料槽内的浮点、灰尘、尘埃等,这些污染物会导致焊点质量降低、焊接时焊点拉尖、产生气孔、短路等等多种不良现象。

这么多污染物,到底哪些才是最备受关注的呢?助焊剂或锡膏普遍应用于回流焊和波峰焊工艺中,它们主要由溶剂、润湿剂、树脂、缓蚀剂和活化剂等多种成分,焊后必然存在热改性生成物,这些物质在所有污染物中的占据主导,从产品失效情况来而言,焊后残余物是影响产品质量最主要的影响因素,离子型残留物易引起电迁移使绝缘电阻下降,松香树脂残留物易吸附灰尘或杂质引发接触电阻增大,严重者导致开路失效,因此焊后必须进行严格的清洗,才能保障电路板的质量。

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